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UV曝光裝置
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uv固化裝置
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紫外可見光光度計(jì)
塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚電子MCPD-6800中國代理多通道光譜儀這是一款多通道多通道光譜儀，適用于紫外到近紅外范圍。 除了顯微光譜、光源發(fā)光、透射和反射測量外，它還可以與軟件結(jié)合使用，以評估物體的顏色和薄膜厚度。
OTSUKA大塚電子MCPD-6800擁有3個(gè)波長范圍內(nèi)的12種探測器陣容，并提出*合適的探測器，以滿足客戶需求和測量應(yīng)用。
MCPD-6800它配備了通用USB端口和LAN通信，可以支持從遠(yuǎn)程位置進(jìn)行遠(yuǎn)程測量，從而擴(kuò)展了便利性和廣泛的測量應(yīng)用。
OTSUKA大塚電子MCPD-6800使用512通道或1024ch檢測元件和探測器主體的內(nèi)部存儲(chǔ)器，可以每5毫秒（MCPD-6800）以高靈敏度和精度測量不斷變化的紫外，可見光和近紅外發(fā)射光譜。
OTSUKA大塚電子MCPD-6800薄膜厚度測量系統(tǒng)用途 ◎薄膜、涂膜、保護(hù)膜的膜厚 ◎晶圓、玻璃基板、鋁基板上的膜厚
OTSUKA大塚電子MCPD-6800顯微光譜系統(tǒng)應(yīng)用 ◎ 顯微鏡下微小斑點(diǎn)的測量（反射、透射、吸收） ◎ 薄膜厚度測量
（薄膜、各種基材上的薄膜、保護(hù)膜）
多點(diǎn)測量系統(tǒng)
應(yīng)用 ◎ 減反射膜的反射率測量 ◎ 涂膜的膜厚測量 ◎ 各種基材上的膜
厚測量
| 橫移機(jī)兼容系統(tǒng) | |
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應(yīng)用 ◎ 減反射膜的膜厚和反射率測量 ◎ 功能性膜 的質(zhì)量控制 |
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