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ELSZ-2000S OTSUKA大冢- 高分子相結(jié)構分析系統(tǒng)ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 高分子相結(jié)構分析系統(tǒng)ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 高分子相結(jié)構分析系統(tǒng)ELSZ-2000S
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Agilent 7100 OTSUKA大冢- 毛細管電泳系統(tǒng) 陽離子和陰離子等不同的成分可以用一臺裝置進行分析。 用微量樣品可以進行短時間、高分辨率的分析。 OTSUKA大冢- 毛細管電泳系統(tǒng)Agilent 7100OTSUKA大冢- 毛細管電泳系統(tǒng)Agilent 7100OTSUKA大冢- 毛細管電泳系統(tǒng)Agilent 7100
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DRM-3000 OTSUKA大冢-高靈敏度示差折射計 可以根據(jù)靜光散射法的重量平均分子量決定的dn / dc測量。 OTSUKA大冢-高靈敏度示差折射計DRM-3000OTSUKA大冢-高靈敏度示差折射計DRM-3000OTSUKA大冢-高靈敏度示差折射計DRM-3000
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SLS-6500HL OTSUKA大冢- 靜態(tài)光散射光度計 可以測量使用靜光散射法的**分子量、慣性半徑、**膽量系數(shù)。 OTSUKA大冢- 靜態(tài)光散射光度計SLS-6500HLOTSUKA大冢- 靜態(tài)光散射光度計SLS-6500HLOTSUKA大冢- 靜態(tài)光散射光度計SLS-6500HL
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FPAR-1000AS OTSUKA大冢- 自動桑普勒濃厚系顆粒直徑 FPAR和自動取景器的組合中，關于50檢體的試料，可以進行粒子直徑的自動測量。 樣品量為1ml，可以使用廉價的電筒進行測量。 OTSUKA大冢- 自動桑普勒濃厚系顆粒直徑FPAR-1000ASOTSUKA大冢- 自動桑普勒濃厚系顆粒直徑FPAR-1000ASOTSUKA大冢- 自動桑普勒濃厚系顆粒直徑FPAR-100
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FPAR-1000 OTSUKA大冢- 濃厚系顆粒直徑系統(tǒng) 從稀薄系到濃厚系，在廣泛的濃度區(qū)域中的粒子直徑測量 *適合分析膠體分散液和拉拉力的分散狀態(tài)。 OTSUKA大冢- 濃厚系顆粒直徑系統(tǒng)FPAR-1000OTSUKA大冢- 濃厚系顆粒直徑系統(tǒng)FPAR-1000OTSUKA大冢- 濃厚系顆粒直徑系統(tǒng)FPAR-1000
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FDLS-3000 OTSUKA大冢- 光纖光學動態(tài)光散射光度計 根據(jù)固體激光和高靈敏度檢測器（冷卻型光電子倍增管），可以測量0.5nm～5000 nm的粒子直徑和粒子直徑分布（粒徑·粒徑分布）。OTSUKA大冢- 光纖光學動態(tài)光散射光度計FDLS-3000OTSUKA大冢- 光纖光學動態(tài)光散射光度計FDLS-3000OTSUKA大冢- 光纖光學動態(tài)光散射光度計FDLS-3000
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DLS-6500series OTSUKA大冢- 動態(tài)光散射光度計 可測量使用動態(tài)光散射法的粒子直徑、粒子直徑分布（粒徑、粒徑分布）。 OTSUKA大冢- 動態(tài)光散射光度計DLS-6500seriesOTSUKA大冢- 動態(tài)光散射光度計DLS-6500seriesOTSUKA大冢- 動態(tài)光散射光度計DLS-6500series
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ELSZ-2000S OTSUKA大冢- 粒徑·分子量測量系統(tǒng)ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 粒徑·分子量測量系統(tǒng)ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 粒徑·分子量測量系統(tǒng)ELSZ-2000S
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nanoSAQLA OTSUKA大冢- 多檢體納米粒子直徑測量系統(tǒng)nanoSAQLAOTSUKA大冢- 多檢體納米粒子直徑測量系統(tǒng)nanoSAQLAOTSUKA大冢- 多檢體納米粒子直徑測量系統(tǒng)nanoSAQLA
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DLS-8000series OTSUKA大冢- 動態(tài)光散射光度計 用動態(tài)光散射法的粒子直徑·粒子直徑分布（粒徑·粒徑分布）測量和使用靜光散射法的優(yōu)良分子量·慣性半徑·**膽量系數(shù)的測量。OTSUKA大冢- 動態(tài)光散射光度計DLS-8000seriesOTSUKA大冢- 動態(tài)光散射光度計DLS-8000series
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ELSZ-2000S OTSUKA大冢- 電位測量系統(tǒng) OTSUKA大冢- 粒徑·分子量測量系統(tǒng)ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 粒徑·分子量測量系統(tǒng)ELSZ-2000S
