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國內(nèi)總代KOSAKA小坂微細(xì)形狀測定機(jī)臺階儀ET8000可以高精度自動測量樣品尺寸高達(dá) 2200×2600 mm 的大型工件。 還有一個(gè)加載/卸載樣品的選項(xiàng)。
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國內(nèi)總代全新KOSAKA小坂ET4000M微細(xì)形狀測定機(jī)臺階儀 蘇州有售這款全自動微形狀測量機(jī)具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性，是測量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外，您可以從多種型號中進(jìn)行選擇，以滿足您的應(yīng)用需求。
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國內(nèi)總代KOSAKA 臺階儀探針接觸輪廓儀微細(xì)測定ET4000L 蘇州有售這款全自動微形狀測量機(jī)具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性，是測量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外，您可以從多種型號中進(jìn)行選擇，以滿足您的應(yīng)用需求。
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國內(nèi)總代KOSAKA小坂探針式輪廓儀ET4000A 蘇州有售這款全自動微形狀測量機(jī)具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性，是測量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外，您可以從多種型號中進(jìn)行選擇，以滿足您的應(yīng)用需求。
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國內(nèi)總代 KOSAKA小坂膜厚儀探針接觸式臺階儀ET200A-3D能**可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨 損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)。 ET200A 配備了各種型號探針，提供了通過過程控制接觸力和垂直范圍的探頭，彩色CCD 原位采集設(shè)計(jì)，可直接觀察到探針工作時(shí)的狀態(tài)，更方便準(zhǔn)確的定位測試區(qū)域。
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國內(nèi)總代KOSAKA探針接觸式臺階儀 2/3 維表面粗度ET200A-D。它是2D表面粗糙度分析和階梯測量的理想選擇，可實(shí)現(xiàn)高精度，高分辨率和出色的穩(wěn)定性，并且還支持測量力小的軟樣品表面。
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國內(nèi)總代日本小坂KOSAKA臺階儀微細(xì)形狀測定機(jī)ET200AET200A 能**可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨 損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)。 ET200A 配備了各種型號探針，提供了通過過程控制接觸力和垂直范圍的探頭，彩色CCD 原位采集設(shè)計(jì)，可直接觀察到探針工作時(shí)的狀態(tài)，更方便準(zhǔn)確的定位測試區(qū)域。
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蘇州總代KOSAKA全自動微形測量機(jī)臺階儀ET8000這款可以高精度自動測量樣品尺寸高達(dá) 2200×2600 mm 的大型工件。 還有一個(gè)加載/卸載樣品的選項(xiàng)。全自動用于測量大型工件。 *大樣本量2200×2600毫米，測量范圍X：10毫米 Y：10毫米
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江蘇供應(yīng)日本小坂臺階儀ET-4000M全新這款全自動微形狀測量機(jī)具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性，是測量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外，您可以從多種型號中進(jìn)行選擇，以滿足您的應(yīng)用需求。ET4000A： 多功能全自動微形測量機(jī)ET4000L： 全自動微形測量機(jī)，可處理大尺寸ET4000M：合理高性能的通用微形測量機(jī)
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國內(nèi)總代ET4000L全新日本小坂KOSAKA臺階儀 這款全自動微形狀測量機(jī)具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性，是測量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外，您可以從多種型號中進(jìn)行選擇，以滿足您的應(yīng)用需求。ET4000A： 多功能全自動微形測量機(jī)ET4000L： 全自動微形測量機(jī)，可處理大尺寸ET4000M：合理高性能的通用微形測量機(jī)
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國內(nèi)總代KOSAKA多功能全自動微形測量機(jī)臺階儀ET4000A這款全自動微形狀測量機(jī)具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性，是測量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外，您可以從多種型號中進(jìn)行選擇，以滿足您的應(yīng)用需求。ET4000A： 多功能全自動微形測量機(jī)ET4000L： 全自動微形測量機(jī)，可處理大尺寸ET4000M：合理高性能的通用微形測量機(jī)
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國內(nèi)總代小坂臺階儀膜厚探針接觸式高度ET200A-3D 它是2D表面粗糙度分析和階梯測量的理想選擇，可實(shí)現(xiàn)高精度，高分辨率和出色的穩(wěn)定性，并且還支持測量力小的軟樣品表面。ET200A：表面粗糙度分析和階梯測量的理想選擇ET200A-D：配備電動Y軸單元 ET200A-3D：D 表面粗糙度分析和階躍差測量的理想選擇
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總代小坂臺階儀kosakalab微小形狀測量機(jī) ET200A-D 它是2D表面粗糙度分析和階梯測量的理想選擇，可實(shí)現(xiàn)高精度，高分辨率和出色的穩(wěn)定性，并且還支持測量力小的軟樣品表面。ET200A：表面粗糙度分析和階梯測量的理想選擇ET200A-D：配備電動Y軸單元 ET200A-3D：D 表面粗糙度分析和階躍差測量的理想選擇
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國內(nèi)總代臺階儀ET200A 小坂Kosaka膜厚測量儀探針表面輪廓 它是2D表面粗糙度分析和階梯測量的理想選擇，可實(shí)現(xiàn)高精度，高分辨率和出色的穩(wěn)定性，并且還支持測量力小的軟樣品表面。ET200A：表面粗糙度分析和階梯測量的理想選擇ET200A-D：配備電動Y軸單元 ET200A-3D：D 表面粗糙度分析和階躍差測量的理想選擇
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FP3030小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創(chuàng)立，日本**家發(fā)表光學(xué)幹槓桿表面粗糙度計(jì)，具有悠久歷史與技術(shù)背景的專業(yè)廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系統(tǒng)為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導(dǎo)體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層以及平板顯示等。
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FP系列小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創(chuàng)立，日本**家發(fā)表光學(xué)幹槓桿表面粗糙度計(jì)，具有悠久歷史與技術(shù)背景的專業(yè)廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系統(tǒng)為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導(dǎo)體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層以及平板顯示等。
