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■納米SAQLA的特點 一臺儀器可輕松連續(xù)測量 5 個樣本，無需自動采樣器即可實現(xiàn) 多個樣本的連續(xù)測量，也可以通過改變每個樣本的條件進行測量。 支持從稀釋到厚系統(tǒng) 標準測量時間 1 分鐘的高速測量 自動調整從厚系統(tǒng)到稀薄樣品的*佳測量位置，實現(xiàn)約 1 分鐘的高速測量 簡單易懂的測量功能（只需單擊一下即可 開始測量），無需復雜的操作 內置非浸沒式細胞塊，無分包的無孔， 每個細胞都是獨立的，因此無需擔心不成問題。 配備 溫度梯度功能，可輕松設置溫度
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特點 *新的高靈敏度 APD 可提高靈敏度并縮短測量時間 通過自動溫度梯度測量進行變性/相變溫度分析 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內進行測量 增加了廣泛的分子量測量和分析功能 支持懸浮高濃度樣品的顆粒尺寸測量
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特點 *新的高靈敏度 APD 可提高靈敏度并縮短測量時間 通過自動溫度梯度測量進行變性/相變溫度分析 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內進行測量 支持懸浮高濃度樣品的Zeta電位測量 通過測量和繪圖分析，提供高精度的 Zeta 電位測量結果，用于測量單元中的電滲透流 支持高鹽濃度溶液的Zeta電位測量 支持小面積樣品的平板Zeta電位測量
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特點 *新的高靈敏度 APD 可提高靈敏度并縮短測量時間 通過自動溫度梯度測量進行變性/相變溫度分析 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內進行測量 增加了廣泛的分子量測量和分析功能 支持懸浮高濃度樣品的顆粒直徑和Zeta電位測量 通過測量和繪圖分析，提供高精度的 Zeta 電位測量結果，用于測量單元中的電滲透流 支持高鹽濃度溶液的Zeta電位測量 支持小面積樣品的平板Zeta電位測量
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從稀釋到濃縮的溶液（~40%）*1可在廣泛的濃度范圍內測量顆粒大小和 Zeta 電位 多角度測量可實現(xiàn)高分離粒徑分布的測量 可在高鹽濃度下測量平板樣品的Zeta電位 使用靜態(tài)光散射法測量顆粒濃度 動態(tài)光散射法可實現(xiàn)微流變測量 通過多點測量凝膠樣品，可以評估凝膠的網(wǎng)狀結構和異質性 標準流單元可連續(xù)測量顆粒大小和 Zeta 電位 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內進行測量 溫度梯度功能允許蛋白質的變性和相變溫度分析 通過測量和繪圖分析，提供高精度的 Zeta 電位測量結果，用于測量單元中的電滲透流 可安裝熒光切割過濾器（可選）
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評估光源在紫外區(qū)域的輻射強度。 ? 通過光譜輻射測量高精度測量 亮度 ，支持 紫外、可見、紅外和廣泛的測量波長范圍，可實現(xiàn)光生物學**評估 這是一個有限的設備，可以測量紫外線的亮度。
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多功能多通道光譜探測器，支持從紫外到近紅外區(qū)域。 光譜測量可在 5 毫秒內進行。 標準儀器的光纖支持各種測量系統(tǒng)，無需識別樣品類型。 除了顯微分光、光源發(fā)射、透射和反射測量外，它還與軟件相結合，支持物體顏色評估和薄膜厚度測量。
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除了能夠進行高精度薄膜分析的光譜橢圓測量外，我們還通過安裝測量角度的自動可變機制，支持各種薄膜。 除了傳統(tǒng)的旋轉分析儀方法外，還通過設置緩速板的自動解吸機制，提高了測量精度。
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我們的 MCPD 系列內聯(lián)薄膜評估系統(tǒng)采用光學類型，可在非接觸式和無損條件下檢測薄膜厚度、濃度和顏色。 可測量薄膜厚度范圍為 65nm 至 92μm，從薄膜到厚膜。 （折射率為1.5時） 測量原理為分光干涉方式，在實現(xiàn)高測量再現(xiàn)性的同時，還支持多層厚度測量。 由于采用專有算法可實現(xiàn)高速實時監(jiān)控，因此我們提出了*適合在線膠片監(jiān)視器的系統(tǒng)。
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我們的 MCPD 系列采用柔性光纖，可集成到從原位到內聯(lián)的各種位置和應用。 由于測量原理采用光譜干涉系統(tǒng)，因此在實現(xiàn)高測量可重復性的同時，還支持多層厚度測量。 采用專有算法，可實現(xiàn)高速實時監(jiān)控。
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OPTM（Optim）是一種利用顯微分光在微區(qū)域進行**反射率測量，可實現(xiàn)高精度薄膜厚度和光學常數(shù)分析的裝置。 涂層膜的厚度和多層膜（如各種薄膜、晶圓和光學材料）可以無損或非接觸式測量。 測量時間可以高速測量 1 秒/點。 此外，它配備了一個軟件，即使是初學者可以很容易地分析光學常數(shù)。
